检测能力 | HAST高加速老化试验，为产品质量保驾护航

HAST高加速老化试验

Hast高加老化试验是提高环境应力(如：温度、湿度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间；Hast也称为压力测试（PCT）或不饱和压力试验（USPCT）。

电子元器件、PCB、芯片通过Hast可靠性试验，来评估器件组件的可靠性能，缩短测试周期，帮助产品上市。

三亿检测作为CNAS、CMA认可的实验室，为客户提供一站式检测服务，具备丰富的可靠性测试经验，长期开展HAST高加速老化试验。

检测范围:

适用于汽车部件、多层电路板、IC封装、液晶屏、LED灯具、半导体、各类传感器等

检测标准：

• GB/T 2423.40、
• IEC 60068-2-66、
• JESD22-A102-D、
• JESE22-A118-A

三亿优势 

01自营实验室，价格更低

自营实验室，取消中间代理环节，价格更低更透明。

02设备领先，一站服务

800套专业检测设备，为客户提供一站式检测服务，解决多领域技术难题。

03权威资质，行业认可

公司具备CMA、CNAS资质，拥有35项检测专利，报告行业认可，真实可靠。

04快捷受理，高效省时

快速响应的服务团队，保障您在最短时间内拿到报告。

05一对一技术支持

工程师一对一协助，让您轻松应对检测问题。

06公正严谨，深受信赖

公正严谨，6年服务三千家企业，深受信赖。

三亿检测为您提供更多元化、精细化的检测服务，详情请致电客服。

电话：0512-57907288

手机：13862648260